文章
  • 文章
搜索
首页 >> 产品 >>产品 >>高光谱异物综合检测系统 >> 高光谱异物综合检测系统
产品
产品
X射线检测系统
高光谱异物综合检测系统
金属探测器
铝箔包装金属探测器
检重秤金属探测器组合单元
金重检一体机
检重秤
行业
检测服务
自动杂质剔除系统
食品行业实验室天平
自动化生产线
奥豪斯Explorer大称量天平
详细说明

高光谱异物综合检测系统

收藏
  • 商品说明

高光谱异物检测系统（HIS-6000D）

l使用X射线，视觉和高光谱技术进行多次检查
- X射线：使用密度差筛选出硬杂质
- 视觉：利用色差筛选出杂质
- 高光谱：使用化学差来区分硬杂质和软杂质

l适用于检查使用不同颜色和成分的混合原料

l通过高速皮带分拣提高生产率

l通过使用多排空气喷射剔除器减少产品损失



相关商品

联系电话

0316-7678686/87/88/89

Copyright  2014-2025,All rights reserved

关注我们
公众号

×
seo seo